納米壓痕儀的杰出設計帶來很多的便利性，包括方便的測試到整個樣品臺， 的樣品定位，方便的確定樣品位置和測試區域，簡便的樣品高度調整，以及快速的測試報告輸出。模塊化的控制器設計為今后的升級帶來極大的方便。

　　增強的載荷加載系統

　　是具有從納牛到牛頓 為完整的加載力范圍，并且不同的加載裝置可自動軟件切換，整個測試流程都是全自動的，極大的提高了測試數據的可靠性和可重復性，避免了可能的人為因素的影響，確保每個測試都是合理、一致。

　　標準的加載裝置

　　標準配置是 XP 加載系統 ( 為500mN)， 位移分辨率< 0.01納米， 壓入深度> 500 微米,該裝置可應用到所有的測試功能。壓頭更換輕松完成，非常好的機架剛度極大的減少了系統對測試的影響。

　　高精度加載裝置

　　原位納米壓痕儀是高分辨的納米納牛力加載模塊，它既可以單獨工作，也可以作為一個附件與Nano Indenter G200 協同工作。由于其慣性質量很低，使得納米壓痕中的初始表面的選取更加靈敏，DCM II 在超低載荷下的納米壓痕測試具有的 度和可重復性，由于它自身的空載共振頻率遠高于一般建筑物的振動頻率，這就使得一般的環境振動對它幾乎沒有影響，DCM II 具有很寬的動態頻率范圍 (0.1 Hz 到 300 Hz)，所有這些特點使得 DCM II 可以提供同類設備不可比擬的高信噪比和高可靠性的試驗數據，例如右圖所示的藍寶石上三個納米深度的壓痕測試，在幾個納米的壓痕深度范圍內獲得了非常可靠的彈性模量。

　　此外， 的第五代 G200 型納米壓痕儀符合各種 標準，保證了數據的完整性。客戶可以通過每個力學傳感器自主設計試驗，在任何時候對其進行切換，同時整個設備占地面積小，適合各種實驗室環境。